1. ऑप्टिकल मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और परमाणु बल माइक्रोस्कोप, शक्तिशाली कार्यों का एकीकृत डिजाइन

2. इसमें ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप और परमाणु बल माइक्रोस्कोप इमेजिंग फ़ंक्शन दोनों हैं, जो दोनों एक दूसरे को प्रभावित किए बिना एक ही समय में काम कर सकते हैं

3. साथ ही, इसमें ऑप्टिकल द्वि-आयामी माप और परमाणु बल माइक्रोस्कोप त्रि-आयामी माप के कार्य हैं

4. लेजर डिटेक्शन हेड और नमूना स्कैनिंग चरण एकीकृत हैं, संरचना बहुत स्थिर है, और हस्तक्षेप-विरोधी मजबूत है

5. सटीक जांच पोजिशनिंग डिवाइस, लेजर स्पॉट संरेखण समायोजन बहुत आसान है

6. एकल-अक्ष ड्राइव नमूना स्वचालित रूप से जांच के पास लंबवत रूप से पहुंचता है, ताकि सुई की नोक नमूने के लंबवत स्कैन हो सके

7. मोटर-नियंत्रित दबावयुक्त पीजोइलेक्ट्रिक सिरेमिक स्वचालित पहचान की बुद्धिमान सुई फीडिंग विधि जांच और नमूने की सुरक्षा करती है

8. जांच और नमूना स्कैनिंग क्षेत्र की सटीक स्थिति प्राप्त करने के लिए अल्ट्रा-उच्च आवर्धन ऑप्टिकल पोजिशनिंग सिस्टम

9. एकीकृत स्कैनर नॉनलाइनियर सुधार उपयोगकर्ता संपादक, नैनोमीटर लक्षण वर्णन और माप सटीकता 98% से बेहतर

विशेष विवरण: