1। ऑप्टिकल मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोप और परमाणु बल माइक्रोस्कोप, शक्तिशाली कार्यों का एकीकृत डिजाइन

2। इसमें ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप और परमाणु बल माइक्रोस्कोप इमेजिंग फ़ंक्शंस दोनों हैं, दोनों एक ही समय में एक -दूसरे को प्रभावित किए बिना एक ही समय में काम कर सकते हैं

3। एक ही समय में साधारण वायु वातावरण, तरल वातावरण, तापमान नियंत्रण वातावरण और अक्रिय गैस नियंत्रण वातावरण में काम कर सकते हैं

4। नमूना स्कैनिंग टेबल और लेजर डिटेक्शन हेड को एक बंद प्रकार में डिज़ाइन किया गया है, और विशेष गैस को सीलिंग कवर को जोड़ने के बिना, अंदर और डिस्चार्ज किया जा सकता है।

5। लेजर डिटेक्शन एक ऊर्ध्वाधर ऑप्टिकल पथ डिजाइन को अपनाता है, और गैस-तरल दोहरे-पर्पस जांच धारक के साथ तरल के नीचे काम कर सकता है

6। सिंगल-एक्सिस ड्राइव सैंपल स्वचालित रूप से जांच को लंबवत रूप से देखता है, ताकि सुई की नोक को नमूने के लिए लंबवत स्कैन किया जाए

7। मोटर-नियंत्रित दबाव वाले पीज़ोइलेक्ट्रिक सिरेमिक स्वचालित डिटेक्शन की बुद्धिमान सुई फीडिंग विधि जांच और नमूने की रक्षा करती है

8. जांच और नमूना स्कैनिंग क्षेत्र की सटीक स्थिति प्राप्त करने के लिए अल्ट्रा-हाई आवर्धन ऑप्टिकल पोजिशनिंग सिस्टम

9। एकीकृत स्कैनर nonlinear सुधार उपयोगकर्ता संपादक, नैनोमीटर लक्षण वर्णन और माप सटीकता 98% से बेहतर है

विशेष विवरण: